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【IEEE EDL】Thermally Assisted Skyrmion Memory

【来源: | 发布日期:2020-04-07 】

S. Luo, N. Xu, Y. Wang, J. Hong, and L. You*. Thermally Assisted Skyrmion Memory. IEEE Electron Device Lett. 41, 932 (2020).

链接:https://ieeexplore.ieee.org/document/9058657